Enova 2013, 4 en 1 à Paris

Le salon qui se déroulera du 8 au 10 octobre réunira les mondes de l’électronique et des systèmes embarqués, de la mesure, de l’optique et des hyperfréquences.

 

C’est la dernière ligne droite pour Enova Paris 2013, réunion, sur un même lieu, du Carrefour de l’électronique (électronique et systèmes embarqués), MesurexpoVision, Opto (optique et photonique) et RF&Hyper. L’événement se déroulera du 8 au 10 octobre prochain à la porte de Versailles, à Paris. En tout, ce ne sont pas moins de 400 exposants qui se tiendront prêts pour accueillir les 8000 visiteurs attendus.

 

Le plein d’animations

Outre l’exposition en elle-même, Enova a prévu quantité d’animations spécifiques. Au programme de l’édition 2013, les Ateliers du Test (Simtec), composés d’un espace d’animation et de conférences sur les thèmes : « test en production, « test en réparation », « test FPGA » et « maintenance et métrologie », et l’espace Systèmes Embarqués (Cap’Tronic), qui accueillera des PME et TPE du domaine de l’embarqué, des centres de compétences privés, publics et des grandes entreprises. A noter, les conférences des « Matinales de l’embarqué » traiteront du « Logiciel embarqué et M2M sous un angle juridique », de la mise en œuvre « de Microsoft Embedded et développement d’IHM » et « d’OS Linux et Android et leurs contraintes respectives ». L’espace Systèmes communicants (IETR et LCIE BUREAU VERITAS) sera, pour sa part, dédié aux systèmes communicants et regroupera des laboratoires français de renom et des PME-PMI innovantes du secteur des télécommunications. Des conférences renforceront ces thématiques présentées sur « Les antennes miniatures », « Le bâtiment intelligent », « CEM : dernières évolutions réglementaires et normatifs » et « L’impact sur l'environnement électromagnétique ». L’espace emploi et formation (Opticsvalley) mettra en relation les entreprises et les candidats. Enfin, les conférences liées à la campagne « Productivez ! » du Symop traiteront de la mesure et du contrôle avec, par exemple, la métrologie 3D, les capteurs intelligents & 3D, l’imagerie pour le CND, la mesure sans contact & dynamique et les machines optiques multisensors, et le contrôle non destructif sera à l’honneur au travers de la conférence «CND : Les avancées actuelles » (Université de Reims Champagne, Reims).

 

Deux congrès et des trophées

A noter, Enova Paris abritera également cette année le seizième congrès international de métrologie (du 7 au 10 octobre, un millier de participants sont attendus), carrefour d'échanges entre industriels et scientifiques, et la deuxième édition du congrès francophone des applications des fibres optiques (du 8 au 10), qui permettra aux participants de partager leurs pratiques, savoir-faire ou retours d'expériences dans les différents domaines de mises en œuvre des FO…

Enfin, l’événement s’accompagnera cette année d’une pluie de trophées avec les Trophées de l’Innovation, qui accueillent cette année une nouvelle catégorie « Technologie embarquée » récompensant les outils et composants (matériels, logiciels) les plus innovants pour le développement de solutions et systèmes embarqués, les Trophées Cap’Tronic ou encore le Prix Yves Rocard…