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19 au 21 septembre – Enova Paris 2017, Paris Expo Hall 4, Porte de Versailles


Plateforme de convergence des technologies de
l’électronique, de la mesure, de la vision et de l’optique, le salon Enova au
travers de ses différentes éditions, fédère les acteurs de l’industrie et de la
recherche pour les accompagner dans leurs projets et accélérer leurs
développements.

Le Congrès International de Métrologie (CIM) se tiendra
cette année au sein du salon Enova Paris, accueillant deux cent conférences de
haut niveau qui rassembleront  plus de
800 congressistes issus d’une quarantaine de pays.

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